★★★★☆
4.1 étoiles sur 5 de 244 notes
2017-07-02
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - de Nicholas W. M. Ritchie, Dale Newbury, David C. Joy, Joseph Michael (Author)
Caractéristiques Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Les données ci-dessous contient des points complémentaires du Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
| Le Titre Du Livre | Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis |
| Date de Lancement | 2017-07-02 |
| Traducteur | Manha Seann |
| Nombre de Pages | 910 Pages |
| La taille du fichier | 43.39 MB |
| Langue | Anglais & Français |
| Éditeur | Sens & Tonka |
| ISBN-10 | 4684172390-MBX |
| Format de Document | ePub PDF AMZ FDX WPT |
| Créateur | Nicholas W. M. Ritchie, Dale Newbury, David C. Joy, Joseph Michael |
| EAN | 175-7277799096-LEF |
| Nom de Fichier | Scanning-Electron-Microscopy-and-X-Ray-Microanalysis.pdf |
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